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EXFO WA-1100  光波長計
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EXFO WA-1100 光波長計
 

設備型號:

           WA-1100
 

設備廠商:

           Exfo
 

設備屬性分類:

           光通信測量
 

設備屬性:

           光波長計
設備描述

EXFO WA-1100  光波長計

產(chǎn)品簡介:

Burleigh WA-1100光波長計采用基于邁克爾遜干涉計的W**波長計技術(shù),通過將被測光信號的干涉條紋圖與內(nèi)置的HeNe激光波長標準相比較,確定被測光信號的絕對波長。

范圍:700 - 1650 nm (181 - 428 THz)

準確度:±1.5 pm

顯示分辨率:0.001 nm

絕對準確度:±0.5 dB(13101550 nm±30 nm)

功率分辨率:0.01 dB。功率線性:±0.3 dB

功率顯示分辨率:0.01 dB

光學輸入信號靈敏度:-30 dBm(0.1),1200 - 1600海里;-20dBm(1.0),700 - 1650 nm。最大輸入電平(所有線路的總和):+ 10 dBm (10 mW)

測量周期:0.1(10/)

儀器接口:GPIB (IEEE-488.2)RS-232, LabVIEW, LabWindows

 

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